近年來，傳統的(de)算(suan)法對規則缺陷以及場(chang)景比較簡單的(de)場(chang)合(he)，能夠很好(hao)工(gong)作，但(dan)是對特征不明顯的(de)、形狀多(duo)樣、場(chang)景比較混亂(luan)的(de)場(chang)合(he)，則不再(zai)適用(yong)。基于(yu)深(shen)度學習的(de)識別算(suan)法被開發(fa)出來，更是隨(sui)著市場(chang)的(de)運用(yong)越發(fa)成熟，許(xu)多(duo)公司，把深(shen)度學習算(suan)法應用(yong)到工(gong)業場(chang)合(he)中。

       工(gong)業檢(jian)測(ce)(ce)(ce)領域(yu)是機器視覺缺陷(xian)無損檢(jian)測(ce)(ce)(ce)應用中比重最大的領域(yu)，主(zhu)要用于產品質量檢(jian)測(ce)(ce)(ce)、產品分(fen)類(lei)、產品包裝(zhuang)等(deng)，如：零件裝(zhuang)配完整性檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，裝(zhuang)配尺寸精度檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，位置(zhi)/角度測(ce)(ce)(ce)量，零件識(shi)別，PCB板檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，印刷品檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，瓶蓋檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，玻璃(li)。

       無(wu)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)有(you)很(hen)多種，包(bao)括(kuo)圖(tu)(tu)像視(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、X射(she)(she)線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、超聲波檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)等(deng)(deng)。雖然X射(she)(she)線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)、超聲波檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)等(deng)(deng)具有(you)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)對(dui)象廣泛、較強(qiang)的(de)穿透力、檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)速度較快等(deng)(deng)優點，但是(shi)(shi)使用這些技術的(de)設(she)備(bei)很(hen)昂貴，絕不是(shi)(shi)一個小(xiao)廠能承擔得起的(de)，而圖(tu)(tu)像視(shi)覺(jue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，也就(jiu)是(shi)(shi)機(ji)(ji)器視(shi)覺(jue)缺陷無(wu)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)設(she)備(bei)很(hen)便(bian)宜，單個設(she)備(bei)加機(ji)(ji)器也不過是(shi)(shi)幾萬(wan)到十幾萬(wan)之間。