連接器是電(dian)腦(nao)、數碼產品、電(dian)視(shi)等不可缺(que)少的(de)部件，主要由塑(su)料本體、金(jin)手指與(yu)金(jin)屬外殼組成(cheng)。

       本(ben)文檢測對象為未裝配金屬外(wai)殼的(de)半(ban)成(cheng)品，注(zhu)塑成(cheng)型的(de)塑料本(ben)體(ti)在生產(chan)中不可(ke)避免會有少量外(wai)表面刮(gua)(gua)傷，金手指由自動機械機構插入本(ben)體(ti)內(nei)部，裝配時難(nan)免出(chu)現漏(lou)針(zhen)(zhen)、堵孔、缺(que)針(zhen)(zhen)、翹針(zhen)(zhen)、本(ben)體(ti)刮(gua)(gua)傷等質量問(wen)題。

       人(ren)工目(mu)檢方(fang)法，容易出現視覺疲勞，造成誤檢及(ji)漏檢，且人(ren)工檢測需要(yao)投(tou)入人(ren)力、物力及(ji)場地。

       因(yin)此，連接器采用(yong)非接觸式自動(dong)檢(jian)測，并取代人工檢(jian)測，而基于圖(tu)像處理(li)技術的(de)機器視(shi)覺檢(jian)測尤其(qi)適合。

01 缺陷類(lei)型

       根據生產實際統計,連接器缺陷特征主要包括：① 漏針：本體槽內無針，金屬物缺失；② 堵孔：本體槽內填充有異物，針被遮擋；③ 缺針：個別本體槽無針；④ 翹針：針彈起高度超過允許值；⑤ 本體刮(gua)傷：本體端(duan)面受機(ji)械(xie)損傷。

02 缺(que)陷檢測

       連接器被送至檢測區域作短暫停留后，傳感器發送信號至檢測程序，開始檢測。同時將檢測合格的器件放在包裝的槽中，對于不合格的器件，啟動剔除裝置進行剔除，就不會進行包裝。

       檢測原理如下：在(zai)照明系統、圖(tu)像(xiang)采集系統和運動控制系統的幫助(zhu)下獲取圖(tu)像(xiang)，把獲取到(dao)的電子連接器圖(tu)像(xiang)信號傳輸到(dao)PC機，在(zai)PC上(shang)進(jin)(jin)行圖(tu)像(xiang)處理與檢測(ce)，完成(cheng)缺陷(xian)檢測(ce)任務，將(jiang)檢測(ce)結果在(zai)顯(xian)示(shi)(shi)器上(shang)進(jin)(jin)行顯(xian)示(shi)(shi)，并傳動給執行單元執行相應(ying)的操作。

03 檢測系統

       由于缺陷位置包括端面及針，為能照射到連接器槽里的針，并凸顯表面的缺陷，連接器圖像采集系統硬件主要包括攝像機、鏡頭、圖像采集卡、光源及工控機等。
軟(ruan)件部位為(wei)矩視(shi)智能(neng)低代碼平臺，檢測軟(ruan)件包含視(shi)覺系統所需要(yao)的各種功能(neng)模塊，可以實現非接觸(chu)、準確(que)、快捷(jie)的自動化測量任務。

硬件設備選擇

CCD 攝像機

       CCD攝像機是按照芯片類型進行分類的，其可分為線陣CCD和面陣CCD。其中線陣CCD攝像機的成像元件是線陣的CCD探測器，因為每次只能拍攝物體的一個條狀部分，如果要想實現物體成像，必須使攝像頭和物體之間經過相對運動完成物體掃描，并把每次拍攝到的結果拼接起來才能得到完整的拍攝圖像。

       這就需要滿足兩個基本條件:一是在相對運動過程中光源的強度不能發生變化，二是攝像頭和物體相對運動時的速度一定是均勻的。

       然(ran)而面陣的CCD攝像機利用的是二維(wei)的CCD芯(xin)片(pian)，拍攝一次(ci)就可(ke)以實現成像。

       對于(yu)獲取二維圖像來(lai)說(shuo)，線(xian)陣CCD就必須要(yao)配合掃(sao)描(miao)運動了，而且(qie)為了能夠對被(bei)測件(jian)上每(mei)一(yi)像素點(dian)所相對應的(de)位(wei)置進行確定(ding)，還需要(yao)用到光柵(zha)等器件(jian)來(lai)進行配合以(yi)記(ji)錄(lu)掃(sao)描(miao)的(de)每(mei)一(yi)行的(de)線(xian)陣CCD坐標。

       這(zhe)樣的話就會(hui)出現以(yi)(yi)下缺點：圖像獲取時間長，測(ce)量(liang)效率低(di)；圖像精(jing)確度會(hui)隨著掃描精(jing)確度的影響而降低(di)，最終影響到測(ce)量(liang)的精(jing)度；系統也(ye)因為增加了掃描運動以(yi)(yi)及(ji)相(xiang)應位置的反饋環節，從而加大了復雜性以(yi)(yi)及(ji)使用成(cheng)本。

       因為在本系統中，相機和被測(ce)連接器的(de)位(wei)置(zhi)是相對固定的(de)，對于選(xuan)(xuan)取(qu)線陣CCD來說是不合適的(de)， 所以在本系統中選(xuan)(xuan)擇(ze)了面陣CCD。

光源

       在實際進(jin)行(xing)圖(tu)像獲取時，采用了前光照的照射方(fang)式：

       在測試系統中，即使背照(zhao)方式(shi)可以提高圖(tu)像對比度，更好地獲取圖(tu)像的(de)質量，但(dan)由(you)于被(bei)測零件(jian)的(de)非直軸(zhou)性，所(suo)以只能采用光源正照(zhao)方式(shi)，這就對圖(tu)像特征提取和邊(bian)緣檢測算法設定了較(jiao)高的(de)要(yao)求。

系統軟件

       通過使用AI深度學習檢測技術，提供非接觸式檢測，精確地呈現連接器Pin針的變形、偏斜等重要信息，及(ji)時(shi)發現連接器(qi)缺陷，有效剔除不合格(ge)產品。

       ● 檢測主角連接器●連接器檢測的復雜性Pin針數量多、缺陷形態多變(bian)、檢(jian)測區(qu)域背(bei)景復雜。

       ●檢測原理根(gen)據上傳(chuan)圖片，對給出(chu)缺(que)陷(xian)進(jin)行(xing)了(le)歸(gui)納分類(lei)并打標簽處(chu)理(li)，針對不同的缺(que)陷(xian)類(lei)別檢測需(xu)求給出(chu)了(le)相應的AI處(chu)理(li)方案；使用標注工具，將缺(que)陷(xian)類(lei)型(xing)根(gen)據標簽進(jin)行(xing)標注；使用矩視低(di)代(dai)碼平(ping)臺中【訓(xun)練】和【測試】功能模(mo)塊，進(jin)入(ru)深

度學習階段，實現檢測需求。

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