熱(re)線(xian)電話:0755-23712116
郵(you)箱:contact@legoupos.cn
地(di)址(zhi):深(shen)圳市寶安區沙井街(jie)道后亭茅洲山(shan)工業園工業大(da)廈全至科技創新(xin)園科創大(da)廈2層2A
明場與暗場
要解釋清楚(chu)明場(chang)檢測與暗(an)場(chang)檢測,首先就要弄(nong)明白(bai)明場(chang)與暗(an)場(chang)的(de)(de)(de)區(qu)別。明場(chang)與暗(an)場(chang)多少(shao)有(you)點(dian)專業(ye)術語(yu)(黑話)的(de)(de)(de)感覺,通俗點(dian)兒講,所謂(wei)明場(chang),可以簡單(dan)的(de)(de)(de)理解為背(bei)景是亮(liang)的(de)(de)(de)缺(que)陷是暗(an)的(de)(de)(de);暗(an)場(chang)則相反,背(bei)景是暗(an)的(de)(de)(de)缺(que)陷是亮(liang)的(de)(de)(de)。
明場檢測與暗場檢測
在半導(dao)體晶圓制(zhi)造環(huan)節(jie)中,為提高產品(pin)良率(lv)、降低生產成本、推進工藝迭代,對晶圓制(zhi)造過程中缺(que)陷的(de)檢(jian)測(ce)(ce)至(zhi)關重要(yao)。根據(ju)檢(jian)測(ce)(ce)技術的(de)不同,缺(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)可(ke)分(fen)為電(dian)子束檢(jian)測(ce)(ce)、光學檢(jian)測(ce)(ce)以(yi)及X光量(liang)測(ce)(ce)三種。
再根據光(guang)源方式、成像原理的(de)差異,光(guang)學檢(jian)測(ce)又可(ke)分(fen)為明(ming)場(chang)(chang)檢(jian)測(ce)(有時(shi)候也叫亮場(chang)(chang)檢(jian)測(ce))與(yu)暗場(chang)(chang)檢(jian)測(ce),有圖形(xing)檢(jian)測(ce)與(yu)無圖形(xing)檢(jian)測(ce)。
明場檢測示意圖
明(ming)場(chang)缺(que)(que)陷檢(jian)測是(shi)指在明(ming)亮的(de)(de)環境下(xia)通過(guo)物體的(de)(de)反射光(guang),對(dui)產品的(de)(de)缺(que)(que)陷進行檢(jian)測,通常(chang)使用(yong)顯微鏡或高分辨率相機等(deng)光(guang)學設備,適(shi)用(yong)于對(dui)產品表面較大的(de)(de)損(sun)傷(shang)、瑕(xia)疵或其它缺(que)(que)陷的(de)(de)檢(jian)測。
暗場缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)檢(jian)測(ce)是通過將光(guang)(guang)源放置在(zai)被檢(jian)測(ce)物體的背(bei)后,使(shi)用(yong)強窄(zhai)光(guang)(guang)束照射樣本,通過對樣本散射光(guang)(guang)線的檢(jian)測(ce),這時樣本表(biao)(biao)面的視場是暗的,沒有(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的地方一片黑暗,缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)處有(you)散射光(guang)(guang)亮,其對于檢(jian)測(ce)晶圓(yuan)表(biao)(biao)面的顆粒與表(biao)(biao)面缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)非常靈敏。。
明場(chang)檢測與暗場(chang)檢測的最大區別就是(shi)檢測源是(shi)反射(she)光還是(shi)散射(she)光。
暗場檢測示意圖
道量檢測(ce)是半(ban)導體晶圓制造的(de)關(guan)鍵工序之一(yi),其中明場和暗場檢測(ce)是重要(yao)的(de)檢測(ce)環(huan)節,對(dui)芯片(pian)制造起著至關(guan)重要(yao)的(de)作用,是的(de)重要(yao)環(huan)節,在多個(ge)方面存在很大的(de)不(bu)同。
明場檢(jian)(jian)測與暗場檢(jian)(jian)測的成像區(qu)別
一般情況下(xia),明場(chang)(chang)檢測的成(cheng)像(xiang)樣品為黑(hei)色背景為白色,暗場(chang)(chang)檢測的成(cheng)像(xiang)樣品為白色背景為黑(hei)色。
一顆芯片在明(ming)場與暗場下的成像,左明(ming)右暗
明場(chang)檢(jian)測對(dui)于較大的缺陷更(geng)為敏感,暗場(chang)檢(jian)測則對(dui)微小的缺陷更(geng)為敏感。
熱(re)線(xian)電話:0755-23712116
郵(you)箱:contact@legoupos.cn
地(di)址(zhi):深(shen)圳市寶安區沙井街(jie)道后亭茅洲山(shan)工業園工業大(da)廈全至科技創新(xin)園科創大(da)廈2層2A